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用DT890数字万用表检查晶振

elecfans ·2020-09-03 00:00·电子工程世界
阅读:978

笔者总结出一种利用DT890数字万用表检查晶体的方法,现介绍如下:


首先将万用表置20MΩ电阻档,按常规方法检查晶体看其有无漏电短路,然后将DT890数字万用表置CAP:2000PF档,将被测晶体插于Cx测试孔。


①.若测得晶体的匣体电容Co比正常值小许多,甚至为0pF,说明被测晶体引极内部断路或晶片出现碎裂(若测得匣体电容Co偏离正常值,说明被测晶体内部可能发生变化)。
②.若测得其电容值为溢出“1”,说明晶体漏电或短路。
③.若测得电容值不稳定,说明晶体引极接触不良或品片松动脱落。


实例:
DT890数字万用表置CAP:2000pF档

①.  DRU晶体1000KHz实测匣体电容Co为2pF。
②. 一只32.768KHz石英表晶振实测匣体电容Co为1pF。

关键字: DT890 数字万用表 检查晶振 编辑:什么鱼 引用地址: http://news.eeworld.com.cn/Test_and_measurement/ic508830.html 本网站转载的所有的文章、图片、音频视频文件等资料的版权归版权所有人所有,本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如果本网所选内容的文章作者及编辑认为其作品不宜公开自由传播,或不应无偿使用,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。
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